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2025-04-14 10:53:06
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适用标准及参数
IEC 61967-2
IEC 61967-2 集成电路电磁发射测量 150kHz～1GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM小室法；
SAE J1752/3
SAE J1752/3 集成电路 TEM/宽带TEM（GTEM）小室法的辐射发射测量；TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、宽带 TEM 小室（150 kHz 至18 GHz）；
IEC 62132-2
IEC 62132-2 集成电路电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和GTEM小室法；
规格参数
频段：DC – 2 GHz
阻抗：50Ω ± 5 %
电压驻波比：DC-3GHz<1.25
插入损耗：DC-2GHz<1dB
回波损耗：DC- 2GHz>20dB
射频接口：N型接口
待测电路板尺寸：100×100mm
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